EOS是一个术语，用于描述当IC受到超出器件规格限制的电流或电压时可能发生的热损坏。 EOS事件可能会降低IC的性能或导致永久性功能故障。EOS也可以指电子电气电气过应力、嵌入式操作系统、基于SDH的以太网或区块链操作系统。
