扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)都是表面分析技术,但是它们的原理和应用有所不同,扫描电镜通过聚焦的电子束扫描样品表面,利用光致效应和二次电子发射等现象观察样品的形貌和成分,透射电镜则是通过穿过样品的电子束来成像,可以观察到原子、分子和晶体的结构。希望这些信息能够帮到您!