X射线衍射(XRD)测试是一种非破坏性分析技术，主要用于研究材料的结构和组成，它通过测量样品在入射X射线束中的散射模式来确定晶体结构、晶格常数、晶胞参数以及晶体中原子或分子的排列，XRD测试主要测量以下几个方面：
1、晶体结构：XRD可以清晰地显示晶体中原子或分子的排列方式，从而揭示材料的晶体结构特征，如立方、体心、六方等。
2、晶格常数：通过计算XRD谱图中的衍射峰位移和强度，可以得到晶格常数、晶面间距等晶体结构参数。
3、晶胞参数：XRD可以提供有关晶胞形状、大小和方向的信息，有助于了解材料的晶体结构优化和设计。
4、杂质和缺陷：XRD可以检测样品中的杂质、气泡、空位等缺陷，从而评估材料的***和质量。
5、相组成和比例：通过对XRD谱图进行定量分析，可以确定材料中不同相(如固溶体、非晶态等)的数量和比例，有助于材料性能的研究和优化。
6、结晶过程：XRD可以研究结晶过程中的生长机制和动力学条件，为实际生产提供指导。
7、表面形貌和化学成分：虽然XRD不能直接测量表面形貌，但它可以反映样品内部的晶体结构信息，从而间接推导出表面形貌和化学成分。
8、与其他表征技术的关系：XRD与其他表征技术(如拉曼光谱、红外光谱等)结合使用，可以更全面地研究材料的结构和性质。
