透射电镜和扫描电镜(SEM)都是观察物质表面形态和结构的高级仪器，但它们的工作原理和应用领域有所不同。
透射电镜是利用电子束穿过样品并与物质相互作用，产生反射和散射信号，从而成像的一种显微镜，透射电镜主要用于观察非导体材料如金属、陶瓷等的晶体结构、晶粒尺寸、晶界、位错等微观缺陷，以及材料的形貌和表面形貌等，透射电镜的优点是可以获得高分辨率的图像，但对于透明或半透明样品的观察受到限制。
扫描电镜则是利用电磁场产生的感应电流来使样品表面发生微弱的形变，进而激发出电子束与样品相互作用，扫描电镜可以观察各种类型的材料，包括导体、半导体、生物材料等，它的主要应用领域包括材料表征、细胞学研究、纳米技术等，扫描电镜的优点是可以观察到透明或半透明样品的内部结构，但对于非导体材料的分辨率较低。
透射电镜和扫描电镜虽然都是重要的显微镜类型，但它们在原理和应用上存在差异，透射电镜更适合于观察非导体材料的结构和形貌，而扫描电镜则适用于更广泛的材料类型和应用场景。
